电子产品可靠性与环境试验创刊于1980年，现为双月刊，面向国内外公开发行。本刊聚焦电子领域的学术前沿与产业需求，集中刊发基础理论研究、应用技术创新、工程实践案例、学科进展综述、政策标准解读等原创性、高价值学术成果，致力于搭建领域内高水平的学术交流与成果转化平台。电子产品可靠性与环境试验常设核心栏目包括自动化技术及设备、计算机科学与技术、计量与测试技术、可靠性与环境适应性理论研究、可靠性与环境试验技术及评价、仿真建模与分析、软件可靠性与评测技术、可靠性设计与工艺控制、电子、电路设计与应用等，发文覆盖可靠性、电路、电子产品、元器件、集成电路、子产、电子元、电子元器件、网络等多个研究方向，持续追踪电子领域热点议题与前沿方向。
电子产品可靠性与环境试验在国内外核心期刊评价体系中屡获佳绩，已被知网收录(中)、维普收录(中)、万方收录(中)、国家图书馆馆藏、上海图书馆馆藏等国内外主要学术数据库收录。创刊至今，期刊先后获评：Caj-cd规范获奖期刊、中国优秀期刊遴选数据库、中国期刊全文数据库（CJFD）、中国学术期刊（光盘版）全文收录期刊等多项行业荣誉。本页整理了该刊的几个重要评价指标，客观呈现期刊的学术传播力与学科影响力，可为广大作者投稿选刊提供全面、可靠的数据支撑。若需了解期刊投稿要求、版面费、出刊时间等更多详情，可咨询本站客服获取进一步咨询。